高い処理温度や加硫温度での試験では、コンパウンドからさまざまな汚染物質が放出される可能性が有り、表面が滑りやすくなったり、ダイが腐食したり、ダイシールが早期に破損したりする可能性があります。 これらの問題は、データのばらつきや人為的な傾向を引き起こす原因となる可能性が有ります。
高い処理温度や加硫温度での試験では、コンパウンドからさまざまな汚染物質が放出される可能性が有り、表面が滑りやすくなったり、ダイが腐食したり、ダイシールが早期に破損したりする可能性があります。 これらの問題は、データのばらつきや人為的な傾向を引き起こす原因となる可能性が有ります。